Учёные СПбГЭТУ «ЛЭТИ» разработали математическую модель, при помощи которой можно по снимках сетчатки глаза выявить диабетическую ретинопатию на ранней стадии с точностью в 88,7%, сообщает «Научная Россия» со ссылкой на Али Султан Маея, руководителя проекта. Разработанную систему можно применять для ранней диагностики сахарного диабета, при котором и появляется указанная патология.
Диабетическая ретинопатия — повреждение сетчатки глаза, появляющееся у больных диабетом в возрасте от 20 до 65 лет. Патология характеризуется изменением структуры стенки кровеносных сосудов сетчатки глаза, из‑за чего жидкость попадает во внутрисетчаточное пространство. У больных с этой патологией снижается зрение, появляются «звёздочки» в глазах, дискомфорт, боль и пелена перед глазами. Если затянуть с диагностикой и лечением, человек может полностью лишиться зрения.
«Мы разработали математическую модель, с помощью которой можно по изображениям сетчатки глаза выявить диабетическую ретинопатию на ранней стадии болезни с точностью в 88,7%. А поскольку данная патология является следствием нарушения нормального уровня глюкозы в крови, нейросеть можно использовать также и для ранней диагностики сахарного диабета», — пояснил руководитель проекта, аспирант кафедры биотехнических систем СПбГЭТУ «ЛЭТИ» Али Султан Маея, цитата по порталу «Научная Россия».
Модель учитывает такие признаки, как: кровоизлияние, скопление липидов, рост кровеносных сосудов и истончение их стенок. Для повышения точности работы системы учёные продолжают собирать данные об анатомии глазного дна, методах оценки патологии и повышения эффективности работы модели для подобных целей. В перспективе исследователи рассчитывают создать очки, сканирующие глаза и находящие подозрительные участки при помощи ИИ-системы. Вероятно, систему удастся адаптировать и для других заболеваний, связанных с диабетом.
Подробности исследования опубликованы в статье Diabetic Retinopathy Detection: Improving Accuracy Using Multiple Transfer Learning Features from Pre-trained Deep Learning Networks на IEEE Xplore.
